電子/半導體
電致遷移 Electromigration。

是指在大電流持續通過金屬導線時,導線中越細的地方,會是電流密度越高的地方,電場也會越高,而導致金屬原子沿著材質本身的晶粒邊界,往電子流動的方向移動的現象。隨著電移的持續增加,電流密度亦跟增加,使情況更加惡化,若電移太過劇烈,導致金屬導線的斷開,造成斷路。

 








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